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鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO 25

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產品型號EVO 25

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更新時間：2023-05-16 12:18:50瀏覽次數：138次

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上海洛豐精密檢測儀器有限公司

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產品簡介

EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領域,LS 25用于生命科學領域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術級的物鏡設計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業界的X射線分析技術。革命性的Beamsleeve的設計，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換成像分析。

詳細介紹

主要特點：

◆大的樣品高度可達210mm

◆大樣品重量5Kg

◆大的樣品直徑300mm

◆能在可變壓力下操作

◆高亮度LaB6資源選擇

◆光線套選擇

技術參數：

分辨率：	3.0nm@ 30KV(SE and W)	4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓	0.2—30KV
放大倍數	5—1000000x
探針電流	0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離	8.5mm 35度接收角
低真空壓力范圍	10—400Pa (LS25：10-3000Pa)
工作室	420mm(φ)×330mm(h)
5軸優中心自動樣品臺	X=130mm Y=130mm Z=50mm T=-10°- 90°R=360°
較大試樣高度	210mm
大試樣直徑	300mm
系統控制	基于Windows 7 的SmartSEM操作系統
存儲分辨率	32,000 x 24,000 pixels

產品應用：

◆掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

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