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北京中顯恒業儀器儀表有限公司
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總體描述蔡司MultiSEM研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代借助MultiSEM顯微鏡，您可以充分運用91條并行電子束的采集速度
借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
MultiSEM 同時運用了多條電子束（綠色：照明通路）和多個探測器。微調探測通路能夠收集大量的二次電子（SE）用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號到達（紅色：探測通路）多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執行同步掃描程序，以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。
并行計算機設置程序用于快速記錄數據，確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中獨立。
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