一、簡介:
FM-AR532/AR785是一臺整合了原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀的*設備,是兩者技術的結合。
可以分別利用原子力顯微鏡和拉曼光譜儀對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析,從而對樣品提供更加全面的信息。
這樣的集成,能讓用戶極大的提高工作效率,將更多的時間用于數據采集和分析,而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。
二、特點:
1、光機電算一體化設計。
2、內置復消色差光學系統,同時清楚看到探針針尖和拉曼激光光斑。3、不移動樣品可以從相同的點同時采集AFM和拉曼數據,原位檢測樣品的各種形貌信息與化學信息,這樣就確保了數據的一致性。
3、高通量的光信號收集和檢測硬件保證采集每一點的信號和拉曼光譜。
4、掃描探頭和激光耦合器集成一體,懸掛式防震,抗力強。
三、應用:
納米科技、物理、化學、藥物學、材料科學、半導體研究、晶體研究、薄膜與聚合物研究、礦物學、地質學、分析科學等。
技術參數
原子力顯微鏡:
工作模式 | 接觸模式、輕敲模式,(可選配摩擦力、相位、磁力或靜電力) |
樣品尺寸 | Φ≤90mm,H≤20mm |
掃描范圍 | XY向50um,Z向5um,(可選配XY向20um,Z向2um) |
樣品移動范圍 | ±10mm |
掃描分辨率 | XY向0.2nm,Z向0.05nm |
圖像采樣點 | 256×256,512×512 |
光學放大倍數 | 復消色差物鏡10X(可選配20X) |
光學分辨率 | 1um |
掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
掃描角度 | 0~360° |
掃描控制 | XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A |
數據采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 |
反饋方式 | DSP數字反饋 |
計算機接口 | USB2.0 |
運行環境 | 運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統 |
拉曼光譜儀:
| FM-AR532 | FM-AR785 |
激光波長 | 532±0.05nm | 785±0.05nm |
激光連續輸出功率 | >500Mw(50-600mW連續可調) |
激光波長穩定性 | <0.05nm |
激光功率穩定性 | <2%(兩小時內) |
激光器壽命 | >10000小時 |
拉曼漂移范圍 | 50-4000cmˉ¹ |
光譜分辨率 | <3cmˉ¹ |
動態范圍 | 8000:1 |
積分時間 | 17毫秒-100秒 |
線性度 | >99.8% |
數據傳輸速率 | 傳輸到內存,使用USB2.0每次7毫秒 |
操作系統 | WindowsXP /7 /8 |
自動尋峰 | 支持 |
拉曼數據庫 | 3000多種常見數據(選配),支持升級 |
開發式拉曼數據庫 | 支持 |
拉曼數據導入導出 | 支持 |
分析軟件 | Raman Analysis 2 |