飛時曼原子力顯微鏡 FM-Nanoview 1000 AFM介紹：
主要功能特點
1、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；
2、精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；
3、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
4、馬達自動脈沖控制驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；
5、高精度樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；
6、帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；
7、模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；
8、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用；
9、彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強。
主要技術指標
1、工作模式：接觸模式、輕敲模式，可選配摩擦力、相位、磁力或靜電力
2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3、掃描范圍：XY向20um，Z向2um
4、掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm
5、樣品移動范圍：±6.5mm
6、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms
7、圖像采樣點：256×256，512×512
8、光學放大倍數4X，光學分辨率2.5um
9、掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°
10、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
11、數據采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
12、反饋方式：DSP數字反饋
13、反饋采樣速率：64.0KHz
14、計算機接口：USB2.0
15、運行環境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統
友好的軟件界面和操作功能
1. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；
2. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；
3. 可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；
4. 可任意選擇樣品起始掃描角度；
5. 激光光斑檢測系統的實時調整功能；
6. 針尖共振峰自動和手動搜索功能；
7. 可任意定義掃描圖像的色板功能；
8. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；
9. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；
FSM-AFM操作軟件主要功能特點
1、可實時觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像；
2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；
3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；
4、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；
6、可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；
7、可任意選擇樣品起始掃描角度；
8、激光光斑檢測系統的實時調整功能；
9、針尖共振峰自動和手動搜索功能；
10、可任意定義掃描圖像的色板功能；
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
原子力顯微鏡廣泛的應用
