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Quanta美國FEI掃描電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

美國FEI掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)：1.FEI ESEM（環(huán)境掃描電鏡）技術(shù),可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進(jìn)行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.*的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺，全數(shù)字化系統(tǒng)。4.可同時(shí)安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統(tǒng)。5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進(jìn)行樣品的原位、動態(tài)觀察和分析。

詳細(xì)介紹

Quanta美國FEI掃描電子顯微鏡的詳細(xì)資料

【產(chǎn)品介紹】

技術(shù)參數(shù)：

1.分辨率:

　二次電子:

　　高真空模式3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV

　　高真空減速模式7nm @ 3kV (可選項(xiàng))

　　低真空模式3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV

　　環(huán)境真空模式3.0nm @ 30kV

　背散射電子4.0nm @ 30kV

2.樣品室壓力zui高達(dá)2600Pa