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當前位置：安徽澤攸科技有限公司>> ZEM Ultra場發射ZEM Ultra場發射臺式掃描電子顯微鏡
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡
產品介紹
ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發射電子源，三級獨立真空設計，優于2.5nm的分辨率滿足多數樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
產品特色
▲ 全自動操作
▲ 肖特基場發射電子槍
▲ 高穩定性
▲ 高分辨觀測
▲ 豐富拓展
▲ 易用性強
產品參數
圖像像素尺寸（默認）：512*512（視頻）2048*2048（拍照）
燈絲類型：場發射燈絲
電動樣品臺：XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸
探測器類型：BSE、SE、EDS
減速模式：選配（0-10kv樣品臺電壓減速）
應用案例
金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）
磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）
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