產品展示
臺式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
【簡單介紹】
【詳細說明】
TM4000 系列采用*新和尖*技術,重新定義了桌面顯微鏡的功能。 這款新*代久負荷的日立桌面顯微鏡 (TM) 集成了易用性、優化成像和高圖像質量,同時保持了久負荷的 Hitachi TM 系列產品的緊湊設計。 使用日立 TM4000 和 TM4000Plus,體驗桌面顯微鏡的新尺寸。在短短幾分鐘內插入數據采集和報告生成示例!
觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數據,并制作報告。

自動獲取各類數據。快速切換!


*1TM4000PlusⅡ的功能。*2選配
使用Camera Navi*的話,就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察

*選配:Camera Navi系統
操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導出測試報告。
Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告

即便是jue緣物樣品,也無需預處理,就可直接進行觀察
“靜電減輕模式”可抑制靜電現象
對于容易產生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式”,在抑制靜電的狀態下進行觀察。
只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式”。
可在低真空的條件下進行多種觀察
對于容易產生靜電的粉末或含水等樣品,可結合其目的進行觀察。

可在低真空的條件下進行二次電子像(表面形狀)觀察。
無需預處理,也可以觀察jue緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統的導電性樣品,還可以在無預處理的條件下觀察jue緣物和含水、含油樣品。可快速進行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。
此外,通過控制該檢測器,來檢測電子照射所產生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。


可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進行更高計數率解析。
通過加速電壓20 kV,實現EDS元素分布圖的高S/N化

可實現在廣域范圍內進行SEM觀察。
搭配自動馬達臺,可實現低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。

可輕松觀察 STEM 圖像
與全*開發的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。
技術參數
TM4000 系列為 SEM 用戶提供了一種解決方案,可以輕松獲得高質量的數據并快速生成報告,從而實現*效的工作流程。環b、*效的真空系統可縮短泵送時間和高樣品處理量。可容納直徑可達 80 mm、厚度可達 50 mm 的樣品尺寸。
觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數據,并制作報告。

觀察與分析的靈活性
自動獲取各類數據。快速切換!

可快速獲得元素分布圖*2

*1TM4000PlusⅡ的功能。*2選配
使用Camera Navi*的話,就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察

*選配:Camera Navi系統
操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導出測試報告。
Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告

即便是jue緣物樣品,也無需預處理,就可直接進行觀察
“靜電減輕模式”可抑制靜電現象
對于容易產生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式”,在抑制靜電的狀態下進行觀察。
只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式”。
可在低真空的條件下進行多種觀察
對于容易產生靜電的粉末或含水等樣品,可結合其目的進行觀察。

可在低真空的條件下進行二次電子像(表面形狀)觀察。
無需預處理,也可以觀察jue緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統的導電性樣品,還可以在無預處理的條件下觀察jue緣物和含水、含油樣品。可快速進行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。
此外,通過控制該檢測器,來檢測電子照射所產生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。

高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理

可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進行更高計數率解析。
通過加速電壓20 kV,實現EDS元素分布圖的高S/N化

Multi Zigzag(選配)
可實現在廣域范圍內進行SEM觀察。
搭配自動馬達臺,可實現低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。

EM 樣品臺(選配)
可輕松觀察 STEM 圖像
與全*開發的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。
技術參數
項目 | TM4000PlusII | TM4000II |
---|---|---|
倍率 | ×10~×100,000(照片倍率) ×25~×250,000(顯示器倍率) | |
加速電壓 | 5 kV、10 kV、15 kV、20 kV | |
圖像信號 | 背散射電子 二次電子 復合圖像(背散射電子+二次電子) | 背散射電子 |
真空模式 | 導電體(僅背散射電子) 標準 靜電減輕 | 標準 靜電減輕 |
樣品可移動范圍 | X:40 mm Y:35 mm | |
*大樣品尺寸: | 80 mm(直徑) 50 mm(厚度) | |
電子槍 | 集中燈箱(Pre-Centered Catridge Filament) | |
檢測器 | 背散射電子:高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子:高感度低真空 二次電子檢測器 | 背散射電子:高感度4分割 背散射電子檢測器 |
排氣系統 (真空泵) | 渦輪分子泵:67 L/s 1臺 隔膜泵:20 L/min | |
尺寸與重量 | 主體:330(寬度)×614(進深)×547(高度) mm、54 kg(附帶馬達驅動的樣品臺) 主體:330(寬度)×617(進深)×547(高度) mm、54 kg(附帶手動樣品臺) 隔膜泵:144(寬度)×270(進深)×216(高度) mm |
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