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昆山友碩新材料有限公司
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更新時間：2023-04-03 09:44:05瀏覽次數(shù)：176次
聯(lián)系我時，請告知來自 化工機械設(shè)備網(wǎng)蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代 借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯
蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代
借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
以速度和納米分辨率采集圖像
91 條電子束同時工作，擁有出色的成像速度。
在幾分鐘內(nèi)對1 mm2的區(qū)域成像，分辨率高達 4 nm。
借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測器，以低信噪比采集高襯度圖像。
大型樣品的采集和成像
MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。
對整個樣品成像并發(fā)現(xiàn)所有細節(jié)，助力于科研。
自動采集方案可實現(xiàn)大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像，且不丟失可見信息。
ZEN 成像軟件
使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應(yīng)用于所有蔡司成像系統(tǒng)
智能化自動調(diào)節(jié)程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像
根據(jù)樣品的實際情況，快速輕松地創(chuàng)建復(fù)雜的自動采集流程
MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續(xù)并行成像
開放的API軟件接口可提供靈活快速的應(yīng)用開發(fā)
對大體積樣品連續(xù)切片斷層掃描的數(shù)據(jù)獲取
使用ATUMtome 自動切割樹脂包埋生物組織。 一天內(nèi)搜集多達1000個連續(xù)切片。
將切片用膠帶固定在硅晶片上并用蔡司的光學顯微鏡成像。使用蔡司的 ZEN 成像軟件以及 Shuttle & Find 功能組件對整體成像。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下，對樣品進行整體預(yù)覽并利用 ZEN 軟件用戶界面規(guī)劃整個實驗。
用圖形化的控制中心設(shè)置整個實驗。高效的自動切片檢測可以識別和標注感興趣區(qū)域，節(jié)省大量時間。
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