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日立高新球差校正透射電鏡HF5000產品簡介
日立高新球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃；可配置EDS雙探頭，固體角可達2.0sr；具備TEM、STEM，SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性......HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
特點：
1、高度自動化球差校正，盡量減少人員介入，適用于繁忙的分析測試中心或設備平臺;
2、三位一體呈現(TEM、STEM、SEM)，內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取;
3、EDS超大球面角，無窗口探頭。可實現快速，高靈敏度化學成分分析;
4、前瞻性平臺總體設計，為性能擴增預留選項，例如可擴增為氣體環境電鏡。
參數配置：
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